测径仪工作原理

           国内比较常用的两种非接触测量方法，一种是基于CCD器件接收光信号的测量方法，另一种是激光扫描测量方法下面让我们来看看他们的基本工作原理。

      第一种测量原理：CCD尺寸测量

      CCD测径仪原理示意图：

      CCD尺寸测量系统基本都由CCD像传感器、光学系统、数据采集和处理系统组成，我们先来看一下采用CCD测量的基本原理：线阵CCD平行光法进行非接触测量的基本原理：将线阵CCD置于平行光路，被测物放于CCD前方光路中就被物体挡住一部分，因此CCD接收端就有一个阴影。阴影的宽度与物体的尺寸有一一对应的关系，我们通过电路和软件处理就计算出被测物体的尺寸。

      第二种测量原理：激光扫描测量

      激光扫描原理示意图：

      激光扫描测径采用激光器发出的光束通过多面体扫描转镜和扫描光学系统后，形成与光轴平行的连续高速扫描光束，对被置于测量区域的工件进行高速扫描，并由放在工件对面的光电接收器接收，投射到光接收器上的光线在光束扫描工件时被遮断，所以通过分析光电接受器输出的信号，可获得与工件直径有关系的数据。